首頁(yè)四針方阻測(cè)試儀
| 采用前段四根探針組成的探頭，由探頭壓在薄膜膜層材料上時(shí)，直流電流為0.1A-1.0A,測(cè)試電阻的范圍是0-20000Ω，方阻計(jì)就能立刻顯示出材料的方阻值，具體原理是外端的兩根探針產(chǎn)生電流場(chǎng)，內(nèi)端上兩根探針測(cè)試電流場(chǎng)在這兩個(gè)探點(diǎn)上形成的電勢(shì) | |
| 采用前段四根探針組成的探頭，由探頭壓在薄膜膜層材料上時(shí)，直流電流為0.1A-1.0A,測(cè)試電阻的范圍是0-20000Ω，方阻計(jì)就能立刻顯示出材料的方阻值，具體原理是外端的兩根探針產(chǎn)生電流場(chǎng)，內(nèi)端上兩根探針測(cè)試電流場(chǎng)在這兩個(gè)探點(diǎn)上形成的電勢(shì) | |
